CHINO IR-FA光纤式红外温度仪详解
CHINO IR-FA系列是千野(CHINO)基于70余年辐射测温经验开发的光纤透射式辐射温度计,专为现代工业中高温、强电磁干扰、防爆及空间受限等复杂工况设计。其核心优势在于通过光纤分离光学探头与主机,实现非接触式温度测量,同时具备高精度、高响应速度和强环境适应性。
系列包含三大机型:
IR-FAS:中高温型(400℃~3000℃),采用Si检测元件,波长0.9μm,响应时间10ms,适用于金属冶炼、热处理等场景。
IR-FAI:中低温型(150℃~1600℃),采用InGaAs检测元件,波长1.55μm,响应时间10ms,适用于半导体制造、食品加工等低温环境。
IR-FAQ:双色型(300℃~3000℃),Si/InGaAs复合检测,波长0.85~1.55μm,响应时间40ms,通过双波长比值消除烟尘、蒸汽干扰,适用于燃烧诊断、垃圾焚烧等恶劣环境。
光学探头设计
小型化与耐高温:探头外径最小仅φ6mm,采用不锈钢外壳,内置微型透镜组,数值孔径优化以兼顾集光效率与景深,耐温达150℃,可直接深入炉壁小孔或晶体生长腔体。
激光瞄准功能:可选激光瞄准附件,实现测量点可视化,确保探头光轴垂直于被测表面(非垂直时需按cosθ修正发射率)。
光纤传输系统
低损耗石英光纤:标准长度3m(可扩展至20m),护套为金属波纹管或PTFE编织层,具备耐弯折(弯曲半径≥50mm)、耐腐蚀及EMI免疫特性,可在高频感应加热或强磁场环境中稳定传输信号。
波长选择性传输:光纤仅允许特定波段(如0.9μm或1.55μm)的红外辐射通过,减少杂散光干扰,提升信噪比。
主机信号处理
高精度检测器:内置带温控的Si或InGaAs检测元件,配合24-bit ADC和DSP芯片,实现信号线性化与温度计算。
实时补偿算法:采用“金属-碳共晶定点溯源"算法,对探测器非线性、发射率变化及光纤衰减进行动态补偿,确保全量程准确度≤±0.5%·rdg或±2℃(取大者)。
多输出接口:标配4-20mA/0-10V模拟量、RS-485(Modbus-RTU)及Ethernet(Modbus-TCP)接口,可无缝接入DCS、PLC或MES系统,支持远程监测与控制。
免水冷设计
光纤及探头在150℃环境中可直接连续工作,省去传统红外测温仪必需的水冷套或涡流制冷器,显著降低系统复杂度与能耗。
电磁免疫与防爆认证
光纤为非导电介质,可在高频感应加热、强磁场或Zone2防爆区安全使用;主机可置于安全区,满足IECEx及ATEX认证要求,适用于石油化工、冶金等高危行业。
狭小空间适应性
探头外径最小φ6mm,配合柔性光纤,可深入炉壁小孔、晶体生长腔体或拉丝模内部进行精准测温,解决传统测温仪无法触及的盲区问题。
高速响应与动态控制
最快响应时间10ms,满足快速热处理、激光焊接、粉末烧结等瞬态过程的温度闭环控制需求,助力工业自动化升级。
发射率智能修正
发射率支持0.10~1.00可调,可通过现场比对(接触式或金点法)标定,亦可调用内置材料数据库(如氧化铁、铝、铜等常见材料),减少人为误差。
钢铁冶金:高炉风口、连铸坯表面、热轧带钢温度监测,优化生产工艺,提升产品质量。
有色金属:铝电解槽、铜冶炼炉、钛合金真空熔炼温度控制,防止过热或欠热导致的材料缺陷。
半导体与光伏:Czochralski单晶炉、MOCVD反应腔、PECVD石墨舟温度均匀性检测,确保晶圆生长质量。
科研实验:等离子体诊断、激光材料加工、燃烧火焰温度场测量,为理论研究提供高精度数据支持。
能源与环保:垃圾焚烧炉、生物质锅炉、燃气轮机排气温度监测,优化燃烧效率,减少污染物排放。
安装与布线
光纤弯曲半径需≥50mm,避免锐角弯折;穿越高温区时需外加陶瓷纤维套管防护。
主机环境工作温度0~50℃,通过空气自然对流或附加散热片即可长期稳定运行。
日常维护
探头窗口每月用无水乙醇擦拭一次,防止灰尘或油污遮挡;主机滤网半年清洁一次,确保散热效率。
校准周期建议12个月一次,可在千野授权实验室完成,确保测量准确性。
故障排查
若温度显示异常,首先检查探头窗口是否清洁,其次确认光纤连接是否松动,最后检查主机参数设置(如发射率、波长选择)是否正确。
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